半導體檢測需求升溫 技術升級迎新商機
📋 重點摘要
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半導體大展聚焦檢測技術,業者積極布局高階封裝與新材料帶來的商機。
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業者推出針對2.5D、3D高階封裝及面板級封裝的量測檢測方案。
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新型基板製程導入外觀檢測,涵蓋玻璃基板及晶圓的2D、3D檢測。
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隨著半導體製程多元化,量測與檢測的重要性日益提升,業者需應對新挑戰。
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一年一度半導體大展登場,今年吸引超過1300家展商、4300個攤位,除了製程設備,封裝型態與材料不斷推陳出新,檢測技術也成為業者布局重點。
半導體量測設備公司總經理李賢銘:大概著重的點會是在2.5D跟3D的高階封裝,那未來的一個趨勢會是所謂的面板級的封裝,即使是所謂的矽光子,那我們也有提出一系列的量檢測的一個方案。
科技公司總經理陳識翔:主要是針對在整個半導體,在接下來在不管是玻璃基板或是晶圓的一個產品上,我們就加入了一個外觀的檢測,在2D也好、 3D也好,在用到不同的光學的一個不一樣的一個設備,像玻璃的一些比較在意的內裂、孔內的一些檢測。
從高階封裝到新型基板,半導體製程持續朝向多元化發展,讓量測與檢測的重要性更加受到關注。隨著新材料應用增加,檢測需求更加細緻,業者也加快腳步,因應不同製程帶來的新挑戰。
(圖/TVBS)
【本文由《TVBS新聞網》授權提供。】
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